ԳԱԱ Ինստիտուտների համահավաք գրացուցակ = Методы измерения параметров полупроводниковых приборов / Пер. с англ. М.И.Иглицына
Material type:
TextLanguage: Russian Publication details: Москва : Оборонгиз , 1961.Description: 264 сOther title: - Transistor technology
- 621.382
| Item type | Current library | Collection | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|---|
Books
|
Institute of Radiophysics & Electronics | General | 621.382 M 545 (Browse shelf(Opens below)) | Available | IRE7819 |
Browsing Institute of Radiophysics & Electronics shelves, Collection: General Close shelf browser (Hides shelf browser)
| 621.382 K 795 Кремниевые планарные транзисторы/ | 621.382 K 882 Схемы на четырехслойных полупроводниковых приборах/ | 621.382 M 135 Планарная технология кремниевых приборов/ | 621.382 M 545 Методы измерения параметров полупроводниковых приборов / | 621.382 M 597 Микроэлектроника и полупороводниковые приборы / | 621.382 M 597 Микроэлектроника и полупроводниковые приборы / | 621.382 M 597 Микроэлектроника и полупроводниковые приборы / |
Библиогр.:в конце глав
All site content, except where otherwise noted, is licensed under a
There are no comments on this title.