Normal view MARC view ISBD view

Методы измерения параметров полупроводниковых приборов /

Методы измерения параметров полупроводниковых приборов / Transistor technology Пер. с англ. М.И.Иглицына - Москва : Оборонгиз , 1961. - 264 с.

Библиогр.:в конце глав

Subjects--Topical Terms:
Полупроводникы

Dewey Class. No.: 621.382

Place hold
Print
Add to your cart (remove)
Suggest for purchase
Save record
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS ISBD
More searches

Search for this title in:
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org)