Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках: В.Л. Бонч-Бруевич, И.П. Звягин, А.Г. Миронов
Material type:![Text](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 537.311
Item type | Current library | Collection | Call number | Status | Date due | Barcode |
---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
Institute for Physical Research | General | 537.311/Б-81 (Browse shelf(Opens below)) | Available | IPR12932 |
Список лит. с. 399-412
There are no comments on this title.