Normal view MARC view ISBD view

Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках:

Бонч-Бруевич, В.Л.

Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках: В.Л. Бонч-Бруевич, И.П. Звягин, А.Г. Миронов - Москва: Наука, 1972. - 414 с.: ил. - Физика полупроводников и полупроводниковых приборов .

Список лит. с. 399-412

Subjects--Topical Terms:
Физика--Полупроводниковая электроника

Dewey Class. No.: 537.311

Place hold
Print
Add to your cart (remove)
Suggest for purchase
Save record
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS ISBD
More searches

Search for this title in:
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org)