000 00745cam a2200205Ka 4500
001 27899
003 CONS
005 20230315153105.0
008 070101s rus d
041 0 _arus
082 0 4 _a621.382 С 858
100 1 _aСтриха, В. И.
245 1 0 _aФизические основы надежности контактов металл-полупроводник в интегральной электронике/
_cВ. И. Стриха, Е. В. Бузанева,
260 _aМосква:
_bрадио и связь,
_c1987.
300 _a256 с.
504 _aБиблиогр.: с. 236-245
650 1 4 _aФизические основы
700 1 _aБузанева, Е. В.
942 _2udc
_cBK
999 _c27700
_d27700