| 000 | 00743cam a2200217Ka 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 24920 | ||
| 003 | CONS | ||
| 005 | 20230315144818.0 | ||
| 008 | 070101s rus d | ||
| 041 | 1 | _arus | |
| 082 | 0 | 4 | _a621.382 |
| 245 | 0 | 0 |
_aМетоды измерения параметров полупроводниковых приборов / _cПер. с англ. М.И.Иглицына |
| 246 | 3 | 1 | _aTransistor technology |
| 260 |
_aМосква : _bОборонгиз , _c1961. |
||
| 300 | _a264 с. | ||
| 504 | _aБиблиогр.:в конце глав | ||
| 650 | 1 | 4 | _aПолупроводникы |
| 700 | 1 |
_aБуракова,О.Н. _eред. _4edt |
|
| 700 | 1 |
_аИглицына,М.И. _епер. _4trl |
|
| 942 |
_2udc _cBK |
||
| 999 |
_c24796 _d24796 |
||