TY  - BOOK
AU  - Артемов,Т.И.
TI  - Качество и надежность интегральных микросхем
U1  - 621.396 K 593 
PY  - 1987///
CY  - Москва
PB  - Высшая школа
KW  - Микроэлектроника
N1  - Книга 5 (1987,144 с.,Библиогр.:с.142); Качество и надежность интегральных микросхем
ER  -