Дефекты в кристаллах и их моделирование на ЭВМ / Отв. ред. Ю.А. Осипьян; Академия наук СССР; Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе
Material type:![Text](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
Item type | Current library | Collection | Call number | Status | Date due | Barcode |
---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
Institute of Applied Problems of Physics | General | 53/Д 39 (Browse shelf(Opens below)) | Available | APP589 |
Browsing Institute of Applied Problems of Physics shelves, Collection: General Close shelf browser (Hides shelf browser)
Библиогр. в конце гл.
There are no comments on this title.