Normal view MARC view ISBD view

Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур / А. В. Раков

By:

Material type: Text

TextLanguage: Russian Publication details: Москва : Советское радио, 1975.Description: 176 сSubject(s):

DDC classification:

Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.

Average rating: 0.0 (0 votes)

Holdings
Item type	Current library	Collection	Call number	Status	Date due	Barcode
Books	Institute of Radiophysics & Electronics	General	535.333 Р193 (Browse shelf(Opens below))	Available		IRE12307
Books	Institute of Radiophysics & Electronics	General	535.333 Р193 (Browse shelf(Opens below))	Available		IRE12308

Previous								Next
Previous	535.33 В881 Современные методы исследования поверхности /	535.33 Н 553 Контур спектральной линии и межмолекулярное взаимодействие /	535.33 ф 390 Основы анализа поверхности и тонких пленок /	535.333 Р193 Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур /	535.333 Р193 Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур /	535.33/34 T 381 Техника спектроскопии в дальней инфракрасной,субмиллиметровой и миллиметровой областях спектра /	535,33/34 T 381 Техника спектроскопии в дальней инфракрасной, субмиллиметровой и миллиметровой областях спектра /	Next

Библиогр.: с. 167-173

There are no comments on this title.

to post a comment.