Измерение параметров оптических покрыртий / Б.М.Комраков,Б.А.Шапочкин
Material type: TextLanguage: Russian Series: Библиотека приборостроителяPublication details: Москва : Машиностроение, 1986.Description: 136 сSubject(s): DDC classification:- 537.533
Item type | Current library | Collection | Call number | Status | Date due | Barcode |
---|---|---|---|---|---|---|
Books | Institute of Radiophysics & Electronics | General | 537.533 К 630 (Browse shelf(Opens below)) | Available | IRE15880 |
Browsing Institute of Radiophysics & Electronics shelves, Collection: General Close shelf browser (Hides shelf browser)
537.531.3 Я 224 Фокусировка заряженных частиц квадрупольными линзами / | 537.533 Б 886 Вторичная электронная эмиссия / | 537.533 Б 898 Физика и применение вторичной электронной эмиссии / | 537.533 К 630 Измерение параметров оптических покрыртий / | 537.533 С 183 Электрооптические кристаллы / | 537.533.25 Э 455 Электронная микроскопия тонких кристаллов / | 537.533.2:54 Э -368 Экзоэлектронная эмиссия / |
Библиогр.: с. 128-130
There are no comments on this title.