Физические основы надежности контактов металл-полупроводник в интегральной электронике/ В. И. Стриха, Е. В. Бузанева,
Material type: TextLanguage: Russian Publication details: Москва: радио и связь, 1987.Description: 256 сSubject(s): DDC classification:- 621.382 С 858
Item type | Current library | Collection | Call number | Status | Date due | Barcode |
---|---|---|---|---|---|---|
Books | Institute of Radiophysics & Electronics | General | 621.382 С 858 (Browse shelf(Opens below)) | Available | IRE15918 |
Browsing Institute of Radiophysics & Electronics shelves, Collection: General Close shelf browser (Hides shelf browser)
621.382 С 773 Полупроводниковые интегральные запоминающие устройства/ | 621.382 С 784 Нейристорные и другие функциональные схемы с обЬемной связью/ | 621.382 С 858 Полупроводниковые приборы с барьером шоттки / | 621.382 С 858 Физические основы надежности контактов металл-полупроводник в интегральной электронике/ | 621.382 Т 440 Тиристоры/ | 621.382 Т 479 Проектирование магнитных и полупроводниковых элементов автоматики/ | 621,382 Ф 176 Обработка поверхности полупроводниковых приборов/ |
Библиогр.: с. 236-245
There are no comments on this title.