Измерение параметров цифровых интегральных микросхем /
Material type:![Text](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 621.382.8
Item type | Current library | Collection | Call number | Status | Date due | Barcode |
---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
Institute of Radiophysics & Electronics | General | 621.382.8 И 374 (Browse shelf(Opens below)) | Available | IRE15013 |
Browsing Institute of Radiophysics & Electronics shelves, Collection: General Close shelf browser (Hides shelf browser)
621.382.8 З 207 Параметры теплового режима полупроводниковых микросхем / | 621.382.8 И 205 Инженерные основы пленочной микроэлектроники/ | 621.382.8 И 374 Измерение динамических параметров интегральных схем / | 621.382.8 И 374 Измерение параметров цифровых интегральных микросхем / | 621.382.8 И 460 Машинное проектриование электронных схем / | 621.382.8 И 730 Интегральные схемы на МДП приборах / | 621.382.8 И 730 Интегральные схемы основы проектированя и технологии / |
Библиогр.:с.353-365
There are no comments on this title.