Normal view MARC view ISBD view

Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем /

Чернышев,А.А.

Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем / А.А.Чернышев - Москва : Радио и связь, 1988. - 256 с.

Библиогр.:с.249-252

Subjects--Topical Terms:
Полупроводникы

Dewey Class. No.: 621.396.6 Ч 497

Place hold
Print
Add to your cart (remove)
Suggest for purchase
Save record
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS ISBD
More searches

Search for this title in:
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org)